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可替代ICP的XRF分析

   日期:2019-09-09

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)是一種高度精確的分析技術(shù),可檢測(cè)樣本中的微量物質(zhì)。但這項(xiàng)技術(shù)極為復(fù)雜,必須由專(zhuān)家來(lái)完成,并使用需要定期校準(zhǔn)和維護(hù)的精密設(shè)備。盡管ICP測(cè)試本身速度很快,但樣本制備難度大、時(shí)間長(zhǎng),且涉及危險(xiǎn)物質(zhì)。在許多情況下,XRF分析可作為ICP測(cè)試的理想替代,其可完全取代ICP分析,也可以在ICP設(shè)備停止工作時(shí)作為后備儀器。


XRF的用途

XRF分析可檢測(cè)樣本中的絕大多數(shù)元素(從百分之幾到百萬(wàn)分之幾)。它可以用于檢測(cè)元素周期表中鈉到鈾之間的元素,此外,還可測(cè)量固體、液體、粉末、糊狀物和薄膜。與ICP一樣,其測(cè)量時(shí)間也很快:從幾秒鐘到幾分鐘不等。


XRF的優(yōu)勢(shì)

如果對(duì)ppm以下的范圍進(jìn)行分析,則ICP是理想之選。但對(duì)于ppm及以上范圍,XRF具備多個(gè)優(yōu)點(diǎn):


如果分析ppm以上的鈉到鈾元素,則可考慮使用XRF替代ICP。


日立XRF光譜儀

日立XRF光譜儀不但易用耐用,還能應(yīng)對(duì)高通量測(cè)試。此外,其還具有高效特點(diǎn),只需將樣本放入分析儀并按下按鈕即可。分析儀能迅速顯示樣本中元素的簡(jiǎn)單讀數(shù)。還能查看詳細(xì)的光譜,以便進(jìn)行進(jìn)一步分析。


另一個(gè)有助于提高精確度的功能是樣本旋轉(zhuǎn)器。在測(cè)量過(guò)程中,旋轉(zhuǎn)樣本,使x射線束能夠覆蓋樣本上更大的區(qū)域,從而針對(duì)樣本產(chǎn)生更具好的性元素結(jié)果。


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